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CEM3000系列桌面型掃描電鏡設備采用的鎢燈絲電子槍,發射電流大、穩定性好,以及對真空度要求不高,使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內達到穩定的工作狀態并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測效率,節省了時間成本,特別適用于需要快速獲取結果的應用場景,如工業生產中的質量控制、快速篩選樣品等。
SuperViewW白光形貌干涉儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
中圖納米成像掃描電鏡采用鎢燈絲電子槍,其電子槍發射電流大、穩定性好,以及對真空度要求不高,使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時間內達到穩定的工作狀態并獲得清晰的圖像,從而提高了檢測效率,節省了時間成本。
中圖儀器臺式掃描電鏡儀器運用了快速抽放氣設計,讓用戶在使用時不再等待,且全系列可選配低真空系統,以便精準調節樣品倉內真空度,滿足不同樣品的觀測需求。此外,該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件,滿足用戶的拓展性需求,這使其在材料科學、生命科學、納米技術、能源等多個領域得到了廣泛應用。
CEM3000系列中圖儀器掃描電鏡設備在工業領域展現出廣泛的應用價值,標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統,能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現微觀的形貌和元素分析等。
國產中圖共焦顯微鏡主要用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量。它以轉盤共聚焦光學系統為基礎,結合高穩定性結構設計和3D重建算法,共同組成測量系統,保證儀器的高測量精度。
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