在半導體、光學加工、3C電子等超精密制造領域，“測量分辨率不足導致數據失真"“微觀形貌無法精準捕捉"“環境干擾影響檢測穩定性"等痛點，直接制約產品良率與工藝升級。中圖儀器0.1nm分辨率白光干涉儀（SuperView W1系列），以0.1nm核心分辨率為突破，結合白光干涉技術與智能化功能，為B端用戶提供“高精度、全適配、高效率"的表面形貌測量解決方案。

一、解決行業四大核心測量痛點

二、產品優勢

1.超精密數據，奠定工藝優化基石

0.1nm分辨率搭配0.1nm形貌重復性（STR）、0.005nm粗糙度RMS重復性，連續10次測量Sa=0.2nm硅晶片，數據偏差＜0.001nm，符合ISO 25178、ISO 10610等300余種國內外標準。無論是納米級臺階高度、微觀幾何輪廓，還是超光滑表面粗糙度，均能精準量化，為工藝調整提供可信的量化依據，某半導體企業應用后，因測量誤差導致的返工率降低18%。

2.高速掃描，效率精度雙在線

突破“高分辨率必低速度"的行業瓶頸，W1-Ultra型號在0.1nm分辨率下，掃描速度高達8μm/s，是傳統同類設備的4倍以上；支持單/多區域一鍵測量、陣列式批量檢測，搭配編程預設流程，實現“無人值守"自動化操作。某3C電子代工廠檢測手機玻璃屏微觀形貌時，日均檢測量從200片提升至550片，檢測效率提升175%。

3.全場景適配+抗干擾，復雜環境穩輸出

單掃描模式全覆蓋超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質，無需更換模塊或耗材；配備氣浮式隔振底座與0.1nm分辨率環境噪聲評價功能，可定量檢測外界干擾并有效隔離，即便在車間振動環境中，仍能保持數據穩定。某光學加工企業反饋，設備在車間常態環境下運行，測量數據波動＜0.002nm，滿足元件生產要求。

4.智能化操作+安全防護，降低運維成本

集成式操縱桿可控制所有位置軸、速度及光源亮度，新手培訓1天即可獨立操作；雙重鏡頭防撞保護（軟件ZSTOP+彈簧回縮結構）+光源無人值守自動熄燈設計，設備年損耗率降至2%以下，光源使用壽命延長3年，維護成本較傳統設備降低60%。

三、行業應用

1.半導體制造及封裝：精準測量硅晶片研磨減薄后的表面粗糙度、光刻槽道微觀輪廓，助力頭部企業工藝良率提升8%，檢測數據通過國際標準認證，可直接對接供應鏈質檢要求。

2.3C電子：適配玻璃屏粗糙度、金屬殼模具瑕疵、油墨屏高度差測量，0.1nm分辨率可捕捉微米級劃痕與凹陷，批量檢測無需重復調試，滿足規模化生產質檢需求。

3.光學加工：量化光學元件表面粗糙度、納米臺階高度，數據精高，幫助企業突破光學產品技術瓶頸，成功打入海外市場。

4.汽車零部件與MEMS器件：檢測精密齒輪磨損情況、MEMS器件孔隙間隙，在復雜車間環境中保持數據穩定，某車企借此將零部件質檢合格率提升12%。

四、定制化服務

可根據行業需求定制測量模板、分析參數，提供免費樣品測試與行業專屬解決方案設計。

SuperView W1系列0.1nm分辨率白光干涉儀，以“超精密、全適配、高效率、低運維"的核心優勢，應用覆蓋半導體、3C電子等多行業場景，數據驅動檢測，賦能精密制造升級。如需獲取產品演示視頻、行業案例手冊或免費樣品測試。

注：產品參數與配置以實際交付為準，中圖儀器保留根據技術升級調整相關內容的權利，恕不另行通知。